Sistema e metodo per la misura dell’uniformità spaziale della fotocorrente generata da singole lunghezza d’onda in celle fotovoltaiche

Brevetto depositato il 24 marzo 2016 con numero 102016000031031

La presente invenzione riguarda un metodo ed un sistema che consentono di illuminare, con una radiazione luminosa ad una specifica lunghezza d’onda e a banda stretta, porzioni isolate della cella fotovoltaica e di misurare la corrispondente fotocorrente prodotta localmente.

Confrontando le misure effettuate illuminando in sequenza aree diverse della stessa cella, si può valutare l’uniformità della fotocorrente per particolari lunghezze d’onda prescelte, da cui si deduce l’uniformità delle proprietà elettriche del dispositivo.

  • Area tecnologica: Strumentazione e Tecniche di Misura
  • Titolari: ENEA
  • Inventori: Mario Tucci, Massimo Izzo, Riccardo Scipinotti, Andrea Lozzi, Luca Serenelli
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